Phenom-elektronenmicroscoop voor snellere materiaalanalyses

Alexander Pil
23 september

Thermo Fisher heeft een nieuwe desktop elektronenmicroscoop op de markt gebracht. De Phenom Particlex is ontworpen om automotiveleveranciers en additieve-productiebedrijven sneller te voorzien van kwaliteitscontroles en materiaalanalyses. Het systeem, dat is ontworpen door het ingelijfde Phenom-World-team, bevat een scala aan geautomatiseerde sem-analyses om materiaalfouten te identificeren of de impact van veranderingen tijdens de ontwikkeling en productie op het eindproduct te bepalen. Door kwaliteitscontrole in eigen huis te houden, kunnen gebruikers van de Phenom Particlex materialen tot tien keer sneller analyseren dan wanneer ze die taak uitbesteden, stelt Thermo Fisher.

‘Het verkrijgen van tijdige informatie is een voorwaarde voor lean manufacturing en het nieuwe geautomatiseerde systeem in de Phenom Particlex biedt meerdere sample-analyses, waaronder chemische en morfologische classificatie, detectie van uitschieters en identificatie van contaminatie waarmee gebruikers geproduceerde goederen kunnen valideren volgens de industrienormen’, aldus Trisha Rice, vicepresident en algemeen manager van materiaalkunde bij Thermo Fisher Scientific.

De hoge-resolutie beeldvorming en chemische analysemogelijkheden in de Phenom Particlex leveren gedetailleerdere foutanalyses dan mogelijk is met optische microscopen, zegt Thermo Fisher. AM-specialisten kunnen grootteverdeling, deeltjeshomogeniteit en verontreinigingen karakteriseren om de zuiverheid van metaaldeeltjes op microschaal te evalueren. Industriële fabrikanten kunnen het gebruiken om te bevestigen of componenten voldoen aan technische schoonheidsspecificaties volgens de VDA19- of Iso 16232-normen.